SJ 20606-1996 二氧化碲单晶规范

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中华人民共和电子行业军用标准,FL 5971 SJ 20606-96,二氧化硫单晶规范,Specification for tellurium dioxide single crystal,1996-08-30 发布1997-01-01 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,中华人民共和国电子行业军用标准,二氧化啸单晶规范,Specification for tellurium dioxide single crystal,范,SJ 20606-96,1.I主题内容’,本规范规定了二氧化硫单晶(エ。2)的要求,质量保证规定、交货准备等,1.2 适用范围,本规范适用于声光器件用的二氧化碗单晶,1.3型号,单晶的型号符合GB 9532—88《锯酸锂、铝酸锂、错酸锌、硅酸秘压电单晶材料型号命名方,法》的规定,示例:,T め2—G40— [ 100 ],(1) (2)(3) (4),⑴ 二氧化硫单晶;,(2)光学晶体,“ G”表示光学;,(3)直径为40mm;,(4)生长轴向,2引用文件,GB 191一90,GB 1556—79,GB 9532—88,包装储运图示标志,”硅单晶晶向X光衍射测量方法,锯酸锂、留酸锂、错酸秘、硅酸锌压电单晶材料型号命名方法,GB/T 15250—94 压电锯酸锂单晶体波声衰减测试方法,SJ 20444—94 锯酸锂单晶规范,3要求,3.I 合格鉴定,样本规范提交的产品应是经鉴定合格或定型批准的产品,3.2 规格尺寸,规格尺寸见表1,中华人民共和国电子工业部1996-08-30批准1997-01-01 实施,1,SJ 20606-96,表1 mm,生 长 轴 向直 径长 度,[001],[100] 20-80 230,[110],注:表!以外的生长轴向、直径及长度按合同规定执行0,3.3 颜色,单晶为无色,3.4 宏观质量,用5mWHe-Ne激光器照射,在规范或合同规定长度内,单晶透明,无裂纹、气泡、散射颗,粒、云层、丝状条纹等O,3.5,2.6,3.7,3.8,3.9,直径偏差,单晶直径偏差不大于2mm,锥度,单晶锥度不大于8%,弯曲度,单晶弯曲度不大于2mm,轴向偏差,单晶轴向偏差不大于2ゝ,小角度晶界,单晶小角度晶界引起的取向偏低不大于301,3.10 单晶的声光性能,单晶声光性能应在表2所列范围内,表2,声 波光波,名 称符号单 位数 值,模式传声方向入射方向偏振方向,mm,声光品质因数s8/g ユ780 X1〇… [110] 632. [001] [no],声衰减系数,m/s 61〇.620,<350,dB/cm. GHz2,<18,[110],[110],[001],632.,632.8,光学均匀性cm <5乂632. [001],波长,严速,M,V,A,5,S,S,注:L表示纵波:S表示横波,3.11 锥光图,单晶锥光图的干涉环应清晰规则,中心部位圆圈不允许畸变为两个独立的小圆圈,4质量保证规定,__ ク __,下载,SJ 20606-96,4.I检验责任,除合同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范的所有检验。必要时,订购方或上,级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检査,4.L 1合格责任,所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制,方整个检验体系或质量大纲的ー个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,承制,方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产,品,也不能要求订购方接收有缺陷的产品,4.2 检验分类,本规范规定的检验分为:,a,鉴定检验;,b.质量一致性检验,4.3 环境条件,除另有规定外,应在下列条件下进行各种试验;,温度温5.35匕;,相对湿度:45%.75%;,气压:86~ 108kPao,4.4 鉴定检验,鉴定检验在产品正式投产前应进行。当原材料或制造工艺发生重大变化有可能影响鉴定,检验结果时,也应进行鉴定检验〇,4.4.1 检验地点,鉴定检验应在有关主管部门认可的试验室进行,4.4.2 检验样品,检验样品应为生产中通常使用的设备和工艺制造的产品,4.4.3 检验,鉴定检验的项目、检验顺序、受试样品数量及允许不合格品数量应按表3中的规定。提交,鉴定检验的单晶为2根,2根单晶先经受1组的检验后,再从中抽取样品进行2组的检验,表3,分组号检验项目要求的章条号,检验方法,的章条号,受试样品数量,允许不合,格品数,组,规格尺寸3.2 461,2 0,颜 色3.3 462,宏观质量3.4 4.6.3,直径偏差3.5 4.6.4,锥 度3.6 4.6.5,弯曲度3.7 4.6.6,轴向偏差3.8 4.6.7,3,SJ 20606—96,续表3,分组号检验项目要求的章条号,检验方法,的章条号,受试样品数量,允许不合,格品数,2组,小角度晶界3.9 468,声光性能3.10 469 1 0,锥光图3.11 4.6.10,4.4.4 不合格判定,若2根单晶通过表3中列出的各项检验或试验,则鉴定检验合格;若其中有一项或ー项以,上检验或试验,超过表3规定的允许不合格品数,则不授予鉴定合格资格,4.4.5 鉴定合格资格的保持,为了保持鉴定合格资格,承制方应在每隔24个月向鉴定机构提交一份报告。鉴定机构应,规定起始报告日期。报告中应包括如下内容;,?已进行的逐批检验的试验结果摘要,至少应表明合格批数、不合格批数和不合格品所,在的组,b.已进行周期检验的试验结果摘要,该摘要应包括在24个月内所进行和完成的全部周,期检验结果。如果试验结果摘要表明产品不符合规范要求,而……

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